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第八百七十九章 :S級項目!

    半個小時的時間並不長,在徐川通過掃描電子顯微鏡觀察著這塊月岩材料的時候,實驗室,另一邊的檢測也順利完成了。

    超高解析度場發射掃描電子顯微鏡對月岩的檢測結果已經繪製成數據表和圖片。

    連接上彩色印表機和圖像列印設備,負責進行實驗的王杭迅速將相關的數據圖表列印了出來。

    「徐院士,趙所,場發射掃描電子顯微鏡的分析結果已經出來了。」

    從對方手中接過實驗數據,徐川迅速翻閱了起來。

    相對比常規的掃描電子顯微鏡來說,超高解析度的場發射掃描電子顯微鏡雖然耗費的時間要長很多。

    但是它能看到的東西也會多很多。

    尤其是星海研究院中的設備都是採用最新數字化圖像處理技術,提供高倍數、高分辨掃描圖像的最新一級的設備,價值不菲的同時也能帶來更多對材料本身的觀測。

    對瑤池環形山月岩的掃描,從大體上來說,和普通的電子顯微鏡觀測到的情況差不多太多。

    但細節方面卻是天差地別。

    比如在普通的掃描電鏡的SED圖中可以直觀顯示碳納米管的粗細,以及碳納米管之間的交織狀態。

    但是在場發射掃描電子顯微鏡STEM圖中,可以看到隱藏在3D結構中的小顆粒結構。

    這些顆粒結構在傳統掃描電子顯微鏡的實驗中是無法看到的。

    此外,場發射掃描電子顯微鏡還有獨特的明場像BF,暗場像DF,以及高角度環形暗場像HAADF模式等等。

    這些圖像具有不同的成像優勢,可以根據樣品情況搭配使用,成像結果進行互相驗證。

    而在這塊瑤池環形山月岩的高角度環形暗場像HAADF上,徐川就發現了一些特別的地方。


    「有點意思,HAADF成像上這些碳納米管的二次電子的軌跡和強度對比明暗場成像有著明顯光暗區別。」

    嘴裡念叨了一句,他的目光落在了手中一張圖紙上,眼神中帶著些許思忖的光彩。

    放到了1000000X倍的圖像上,規則整齊的碳納米管道呈現出來的光亮度有著明顯的區別。

    HAADF成像上的能量反應和成分襯度、形貌襯度這些數據都有一些明顯的變化。

    一旁,趙光貴微蹙著眉頭,開口道:「這不應該,HAADF成像與BF、DF成像理論上來說不會出現如此大襯度和能量反應差。」

    雖然說三種成像方式各有差別,形成的圖像也會有著差別,但能量和襯度會差距這麼大的,很罕見。

    徐川笑了笑,道:「沒什麼不可能的,如果說這些碳納米管道與底層襯底形成了摻雜,產生了類似於集成晶片中半導體門的結構,這些差異是可以說得通的。」

    聞言,趙光貴一臉驚詫的看了過來,忍不住詢問道:「您是說這些試樣表面若存在電位分布的差異,比如類似半導體的 P-N結、加偏壓的集成電路等機構,其局部電位的差異影響到了二次電子的軌跡和強度。」

    徐川點了點頭,道:「嗯,目前來說這個猜測最有可能解釋這種能量與襯度差距。」

    「嘶~」

    趙光貴倒吸了口涼氣,驚訝的說道:「如果是這樣,這極有可能是一塊天然的碳納米管集成板?」

    盯著手中的實驗數據報告文件,徐川思忖著開口道:「不否認這種可能性,不過它是天然碳納米管集成電路板的可能性在我看來還是很低的。」

    「嗯?」

    聞言,趙光貴和實驗室中的其他兩名研究員都投來了詫異疑惑的目光。

    按照HAADF成像上的數據來看,這是非常明顯的電位襯度差距,而一般來說這種差異通常只會出現在半導體上。

    因為半導體具有局部電位差,在正電位區域,二次電子好像被拉住不易逸出,因此在這些區域,二次電子產額較少,圖像上顯得較暗;

    相反,在負電位區域,二次電子易被推出,產額較高,在圖像上顯得較亮,這就是電位襯度。

    一般來說,剖析其他國家的半導體設備,比如晶片,就是通



  
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